Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 光谱反射技术

光谱反射能快速、精确、无损地测量薄膜，且无需制备任何样本。

Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 白光干涉技术

为了测量非常光滑的表面到中等粗糙表面的表面高度，开发了干涉技术，可在任何放大倍率下实现相同的系统噪声。对于 PSI，它可实现优于 0.01 nm 的系统噪声。 ...

Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 共聚焦技术

共聚焦轮廓仪专为测量光滑表面到极粗糙表面而开发。共聚焦轮廓提供更佳的横向分辨率，可达 0.15μm 线条和空间，空间采样可减少到 0.01μm，这是关键尺寸测量...

Sensofar共聚焦白光干涉仪 | AI多焦面叠加技术

主动照明多焦面叠加是一种为了测量粗糙的表面形状而开发的光学技术。这项技术基于 Sensofar 在共聚焦和干涉 3D 测量领域的广泛专业知识，专门设计用于补充低...

Sensofar 大视野光学轮廓仪|条纹投影

条纹投影非常适合大面积测量，垂直精度和可重复性高，系统噪声低。